A exposição conta a história do antigo
Colégio Agrícola, atual campus Bom
Jesus do Instituto Federal Fluminense, desde a sua fundação, em 1970, até os
dias de hoje.
O Centro de Memória IFF – Noroeste
Fluminense abriu na noite de quinta-feira, dia 08 de agosto, no Espaço Cultural
Luciano Bastos, a Exposição Memórias do CTAIBB/IFF Bom Jesus, em comemoração
pelos 43 anos do Colégio Técnico Agrícola Ildefonso Bastos Borges, que em 2008
transformou-se em campus Bom Jesus,
passando a integrar o Instituto Federal Fluminense (IFF).
O evento, que reuniu alunos,
servidores e a comunidade do município de Bom Jesus, contou com a participação
do diretor geral do campus, João
Renato Escudini, da pró-reitora de Extensão e Cultura do IFF, Paula Bastos, e
da diretora de Pesquisa e Extensão do campus
Bom Jesus, Thaís Romano.
João Renato agradeceu o apoio do
Espaço Cultural Luciano Bastos e falou sobre a importância da criação do Centro
de Memória do campus Bom Jesus. “A
história do antigo Colégio Agrícola se confunde com a própria história do
município. Também me considero parte desta história, pois estou na instituição
desde 1974”, disse o diretor.
A coordenadora de Arte e Cultura e do
Centro de Memória do campus Bom
Jesus,
Fernanda Rabelo, ficou satisfeita com o resultado da exposição: “Esta
exposição foi resultado do trabalho de toda equipe do Centro de Memória,
professores, alunos, servidores, e veio mostrar a relevância que os eventos
fora da instituição tem de levar nossas atividades para a comunidade, bem como
construir laços com ela e com outras instituições de ensino locais”, enfatiza Fernanda.
A exposição ficará aberta para
visitação até o dia 30 de agosto de 2013, de terça a sexta, das 9 às 11h30min e
das 13 às 16h30min. Os visitantes poderão percorrer uma linha do tempo, com
fotos, banners, cartazes de eventos do CTAIBB/IFF Bom Jesus, documentos
oficiais, informações sobre cursos e programas, que narram a história da
instituição de ensino, desde o início de suas atividades, no dia 09 de abril de
1970, até o ano de 2013.
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